按照焊盤要求進(jìn)行設(shè)計(jì)是為了達(dá)到最小的直徑，該直徑至少比焊接終端小孔凸緣的最大直徑大0.5mm。
必須按照ANSI/IPC 2221 要求為所有的節(jié)點(diǎn)提供測(cè)試焊盤。節(jié)點(diǎn)是指兩個(gè)或多個(gè)元器件之間的電氣連接點(diǎn)。一個(gè)測(cè)試焊盤需要一個(gè)信號(hào)名(節(jié)點(diǎn)信號(hào)名)、與印制電路板的基準(zhǔn)點(diǎn)相關(guān)的x-y 坐標(biāo)軸以及測(cè)試焊盤的坐標(biāo)位置(說(shuō)明測(cè)試焊盤位于印制電路板的哪一面)。需要為SMT 提供固定裝置的資料，還需要印制電路板裝配布局的溫合技術(shù)，以在"在電路測(cè)試固定裝置"或通常被稱為"釘床固定裝置"的幫助下促進(jìn)在電路中的可測(cè)試性。為了達(dá)到這個(gè)目的，需要:
1)專門用于探測(cè)的測(cè)試焊盤的直徑應(yīng)該不小于0.9mm 。
2) 測(cè)試焊盤周圍的空間應(yīng)大于0.6mm 而小于5mm 。如果元器件的高度大于6. 7mm，那么測(cè)試焊盤應(yīng)置于該元器件5mm 以外。
3) 在距離印制電路板邊緣3mm 以內(nèi)不要放置任何元器件或測(cè)試焊盤。
4) 測(cè)試焊盤應(yīng)放在一個(gè)網(wǎng)格中2.5mm孔的中心。如果有可能，允許使用標(biāo)準(zhǔn)探針和一個(gè)更可靠的固定裝置。
5) 不要依靠連接器指針的邊緣來(lái)進(jìn)行焊盤測(cè)試。測(cè)試探針很容易損壞鍍金指針。
6) 避免鍍通孔-印制電路板兩邊的探查。把測(cè)試尖端通過(guò)孔放到印制電路板的非元器件/焊接面上。

這種方式可以允許使用可靠的、較便宜的裝置。不同的孔尺寸的數(shù)量要維持在最低。表3-7 列出了最小孔的公差范圍。

鍍通孔的縱橫比對(duì)于制造商在鍍通孔內(nèi)進(jìn)行有效電鍍的能力方面有著重要的影響，同樣在保證PTH/PTV 結(jié)構(gòu)的可靠性方面也很重要。當(dāng)孔的尺寸小于基本電路板厚度的1/4 時(shí)，公差應(yīng)增加0.05mm。當(dāng)鉆孔直徑為0.35mm 或更小時(shí)，縱橫比為4:1 或更大時(shí)，制造者都應(yīng)該使用合適的方式遮住或堵住鍍通孔以防止焊料的進(jìn)入。一般而言，印制電路板厚度與鍍通孔間距的比率應(yīng)該小于5 : 1 。

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